劃線平臺(tái)基地：劃線平臺(tái)是用于工件檢測或劃線的平面基準(zhǔn)器具，已 應(yīng)用于jingmi制造和jingmi測量中。由于在劃線平臺(tái)上采用通用量具可以完成許多復(fù)雜的空間幾何量測量，具有快速、準(zhǔn)確、簡便、經(jīng)濟(jì)的優(yōu)點(diǎn)，因此世界各國 重視劃線平臺(tái)的制造與使用。
劃線平臺(tái)光隙法是憑人眼觀察通過實(shí)際間隙的可見光隙量的多少來判斷間隙大小的一種方法。
劃線平臺(tái)光隙法是將刀口形直尺置于被測實(shí)際線上并使它與被測線緊密接觸，轉(zhuǎn)動(dòng)刀口形直尺使它的位置符合小條件，然后觀察刀口形直尺與被測線之間的大光隙，此大光隙即為直線度誤差。
當(dāng)劃線平臺(tái)光隙法較大時(shí)，可用量塊或塞尺測出其值，光隙值較小時(shí)，可通過與標(biāo)準(zhǔn)光隙比較來估計(jì)光隙量大小。還可以觀察透光顏色判斷間隙大小，或間隙大于2.5um，透光顏色為白光；間隙為1-2um時(shí)，透光顏色為紅光；間隙為1um時(shí)，透光顏色為藍(lán)光，間隙小于1um，透光顏色為紫光，間隙小于0.5um則不透光。
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