如何用光隙法在然鐵平臺(tái)平板上測(cè)量圓弧半徑？
光隙法亦稱限量規(guī)法，是檢測(cè)圓弧半徑常用的方法之一。通常用標(biāo)準(zhǔn)圓弧樣板與被測(cè)圓弧之間的光隙大小和位置來(lái)確定被測(cè)圓弧半徑的合格性。光隙位于圓弧的中間部分，則被測(cè)件的圓弧半徑小于樣板的圓弧半徑，即R工<R樣;反之，光隙位于圓弧的兩邊，則被測(cè)件的圓弧半徑大于樣板的圓弧半徑，即R工>R樣。
如果根據(jù)圓弧半徑公差做兩塊限樣板，按上限制造的樣板檢測(cè)工件允許其中間漏光;按下限制造的樣板檢測(cè)工件時(shí)，允許其兩邊緣處漏光，則可確定該工件合格。
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