大理石平板量具采用米字型布線布點(diǎn)的 點(diǎn)如下：
1.測量截面較少，且每個截面都有一定的代表性，測點(diǎn)為 征點(diǎn)，便于反映被檢平板平臺平面總的彎曲態(tài)勢及其平整性。
2.測點(diǎn)分布規(guī)則給用基面變換求取小區(qū)域法平面度帶來方便。
3.測量度較高。
4.通常對角線、長城、短邊的長度均不相等，需采用不同跨距橋板檢定，數(shù)據(jù)處理較麻煩。
5.這種對角線截面為基面進(jìn)行平面度評定的方法稱為對角線法，該法實(shí)際上只是將觀測結(jié)果統(tǒng)一到同一個基準(zhǔn)面上，而沒有避免由于多余觀測產(chǎn)生的重復(fù)點(diǎn)的重復(fù)誤差，這種保留矛盾的計算方法是不夠合理的，因此該法需校驗(yàn)與控制其誤差的大小。
6.大理石平板采用該法易掌握，使用方便，得到了 應(yīng)用。